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ThermoStream 高低温冲击测试机应用

美国 inTEST Thermal Solutions 超过 50 年的热测系统研发专家, 产品包含 ThermoStream 热流仪, 又称热风罩, 实现芯片高低温冲击, 冷热冲击, Thermochuck, ThermoSpot 接触式高低温测试机和 Thermonics Chillers 制冷机. inTEST 已收购 Thermonics 和 Temptronic. 上海凯发娱发com 是美国 inTEST 中国总代理.

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inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics

2013 年 inTEST 将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 ThermoStream ATS 系列超高速高低温冲击测试机

inTEST 高低温测试机

如何选择 inTEST 热流仪配套测试腔

inTEST 测试腔体 ThermoChamber™ 可搭配 ThermoStream 高低温测试机使用, inTEST 设计出多种容易携带及更换的测试腔,这也是您使用 inTEST -ATS 高低温循环试验机进行温度测试时理想的搭配工具

inTEST 热流仪光通信模块高低温测试

高低温测试机客户案例: 对应用于光通讯行业的光纤收发器 Transceiver 或 SFP 光模块进行 -80°C 至 +225°C 的温度循环测试 Thermal cycle 和温度冲击测试 Thermal shock.

inTEST 光通信模块高低温测试

inTEST 热流仪车规级芯片高低温冲击测试

高低温测试机 ATS-545 客户案例: 车规级芯片高低温冲击测试, 国产车载芯片要求在温度范围 - 50 ℃~ 150 ℃ 时搭配模拟和混合信号测试仪, 在电工作下检查不同温度下所涉及到的元器件或模块各项功能是否正常, 使芯片符合汽车安全的电子产品标准

inTEST 热流仪搭配 Keysight 进行功率器件温度测试

高低温测试机客户案例: inTEST 搭配 Keysight 进行 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件 -50℃ - 250℃ 高低温测试是半导体器件制造商中比较通用的测试手段.

inTEST 热流仪半导体芯片高低温测试

高低温测试机客户案例: thermostream 高低温测试机可与爱德万 advantest, 泰瑞达 teradyne, 惠瑞捷 verigy 工程机联用, 进行半导体芯片温度冲击测试 Thermal shock 和温度循环测试 Thermal cycle.

inTEST 热流仪微处理器芯片高低温测试

高低温测试机客户案例:  搭配 delta design 测试机在 -40 到 125 °C 温度范围内, 对微处理器芯片进行高低温测试, 有效提高了芯片测试的速度和准确性, 快速进行在电工作的电性能测试, 失效分析, 可靠性评估等.

inTEST 热流仪电源管理芯片高低温冲击测试

高低温冲击测试机 ATS-545, ATS-710, ATS-535 广泛应用于电源管理芯片高低温冲击测试

inTEST 热流仪集成电路 IC 卡高低温测试

高低温测试机客户案例: 对集成电路 IC 卡进行高低温测试, 用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能

inTEST 热流仪 PCB 板电子芯片高低温测试

高低温测试机客户案例: 对 PCB 板进行高低温测试, 模拟 PCB 板在气候环境下操作及储存的适应性, 已确保其在极端环境下也可正常工作.

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