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inTEST 安全芯片高低温冲击测试
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inTEST 安全芯片高低温冲击测试

inTEST 安全芯片高低温冲击测试
上海凯发娱发com 美国 inTEST 冷热冲击机可与爱德万 advantest, 泰瑞达 teradyne, 惠瑞捷 verigy 等测试机联用, 进行安全芯片的高低温冲击测试. 实时监测安全芯片的真实温度,可随时调整冲击气流, 对测试机平台 load board 上的安全芯片进行快速温度循环冲击, 传统高低温箱无法针对此类测试.

安全芯片多用于银行卡, 门禁卡及物联网中, 由于受到工作空间狭小, 芯片接触面积小, 空气流通环境差, 散热的条件不好等影响,芯片表面可能会经历快速升温, 并且需要在高温的环境中长时间工作; 同时实验室也会搜集一些芯片的高低温运行的数据做留存资料.所以测试安全芯片在快速变温过程中的稳定性十分必要.

上海凯发娱发com 安全芯片高低温测试客户案例:某半导体公司,安全芯片测试温度要求 ﹣40℃~105℃, 选用 InTEST ATS-545 与泰瑞达测试机联用, 对安全芯片进行快速冷热冲击, 设置 12组不同形式的循环温度设定,快速得到完整精确的数据.

示意图

inTEST 安全芯片高低温冲击测试

inTEST ThermoStream ATS-545 技术参数:

型号

温度范围 °C

* 变温速率

输出气流量

温度
精度

温度显示
分辨率

温度
传感器

ATS-545

-75 至 + 225(50 HZ)
-80 至 + 225(60 HZ)
不需要LN2或LCO2冷却

-55至 +125°C
约 10 S 或更少
+125至 -55°C
约 10 S 或更少

4 至 18 scfm
1.9至 8.5 l/s

±1℃
通过美国NIST 校准

±0.1℃

T或K型
热电偶


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