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上海凯发娱发com 美国 inTEST 热流仪电源管理芯片高低温冲击测试
在电源管理芯片可靠性测试方面, 上海凯发娱发com 美国 inTEST ThermoStream ATS 系列高低温冲击测试机有着不同于传统高低温箱的独特优势: 变温速率快, 每秒快速升温 / 降温15°C, 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度; inTEST 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件; 可与爱德万 advantest, 泰瑞达 teradyne, 惠瑞捷 verigy 等工程机联用.
inTEST 高低温冲击测试机

inTEST 热销型号

ATS-545

ATS-710

ATS-535

温度范围 °C

-75 至 + 225

-75至+225

-60 至 +225

变温速率

-55 至 +125°C 约 10 S
+125 至 -55°C 约 10 S

-55 至 +125°C 约 10 s
+125 至 -55°C 约 10 s

-40至+ 125°C < 12 s
+125至-40°C < 40 s

 

空压机

额外另配

额外另配

内部集成空压机

控制方式

旋钮式

触摸屏

旋钮式

气体流量 scfm

4 至 18

4 至 18

5

温度显示和分辨率

+/- 0.1°C

温度精度

1.0°C(根据  NIST 标准校准时)


inTEST ATS-545 电源管理芯片高低温冲击测试: 上海凯发娱发com 客户某生产电源芯片企业, 下图为实际的被测电源芯片, 焊在 PCB 板上. 需要在通电的情况下进行温度测试. 要求测试温度范围﹣60℃~150℃, 进行12组不同形式的循环温度设定.
inTEST ATS-545 电源管理芯片高低温冲击测试
inTEST ATS-710 电源管理芯片高低温冲击测试:上海凯发娱发com 客户某研发电源管理芯片公司, 芯片测试温度范围要求 -40 至 80度,在电测试时, 同时搭配测试仪, 设定不同的温度数值, 检查不同温度下电源芯片各项功能是否正常. 通过使用该设备, 大幅提高工作效率, 并能及时评估研发过程中的潜在问题.
inTEST ATS-710 电源管理芯片高低温冲击测试
inTEST ATS-535 电源管理芯片高低温冲击测试: 上海凯发娱发com 客户南京某公司, 因场地受限, 无法使用空压机, 最终选用 ATS-535 全球唯一内部集成空压机的高低温冲击机进行测试.
inTEST ATS-535 电源管理芯片高低温冲击测试
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